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PB6600功率芯片測(cè)試KGD測(cè)試分選系統(tǒng)-聯(lián)訊儀器
產(chǎn)品類(lèi)別：聯(lián)訊儀器
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品品牌：
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價(jià)格咨詢(xún) 技術(shù)咨詢(xún)
價(jià)格咨詢(xún) 技術(shù)咨詢(xún)- 詳細(xì)描述
- 技術(shù)資料
PB6600是一款廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的高端KGD測(cè)試分選系統(tǒng)，專(zhuān)注于裸Die級(jí)SiC功率芯片動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。采用模塊
化設(shè)計(jì)，支持Frame Ring、Tape&Reel以及Tray 等多種芯片來(lái)料方式。支持Hard Docking連接方式及多站常高溫測(cè)試，具
備高壓防打火功能。專(zhuān)業(yè)的測(cè)試針卡設(shè)計(jì)，通流能力大，針痕可控，測(cè)試穩(wěn)定性高。具備下料分Bin功能，支持分Bin方式定
制化選擇。
聯(lián)訊儀器PB6600 KGD測(cè)試分選系統(tǒng)以專(zhuān)業(yè)化的設(shè)計(jì)、人性化的操作界面和強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)測(cè)試能力為功率半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)、研
發(fā)、制造提供了一個(gè)模塊化、高效率、高精度的裸DIE級(jí)測(cè)試解決方案。
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